新聞發布- 2016年8月2日- NIWeek - NI（美國國家儀器公司，簡稱NI），一家致力於幫助工程師和科學家解決世界上最棘手的工程挑戰的平台係統提供商，今天宣布推出NI PXle-6570圖形矢量-基於數字通道板和NI數字圖形矢量編輯器。該產品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電(MEMS) 係統器件和混合信號IC 製造商從傳統半導體自動測試設備(ATE) 的封閉架構中解放出來。
傳統ATE的測試覆蓋率往往無法滿足最新半導體設備的要求。通過將半導體行業成熟的數字測試模式引入基於PXI開放平台的半導體測試係統（STS），並利用功能強大且用戶友好的編輯器和調試器對其進行優化，用戶可以利用先進的PXI儀器來降低射頻和測試成本模擬IC 並提高吞吐量。
NI 半導體測試副總裁Ron Wolfe 表示：“PXI 數字模式儀器為半導體工程師提供了所有高端數字測試平台都具備的數字性能，因此它的出現無疑為STS 錦上添花。” “如果生產車間的PXI 具有此功能，他們可以輕鬆地將其擴展到測試其他產品，同時滿足先進設備的成本和測試要求。”
NI PXIe-6570 數字模式儀器以非常實惠的價格提供無線設備供應鏈和物聯網設備中常用IC 所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形矢量執行速率，具有獨立源、捕獲引擎、電壓/電流參數功能以及單個子係統中多達256 個同步數字引腳。用戶可以充分利用PXI的開放性和STS，根據需要任意增加或減少所需的器件，以滿足測試配置所需的器件引腳數和測試點數。
新的數字模式編輯器軟件功能：器件引腳圖、規格和圖形矢量編輯環境，幫助更快地製定測試計劃；內置多站點、多儀器並行收發器等工具，實現產品實現從開發到生產的無縫銜接； shmoo 圖和交互式引腳視圖等工具可以更有效地調試和優化測試。
使用相同的PXI 硬件、TestStand、LabVIEW 和數字模式編輯器軟件進行表征和產品測試可減少數據關聯所需的工作量，從而縮短上市時間。 STS 配置內部和外部的PXI 硬件占地麵積小，節省了工廠占地麵積，並且可以通過表征實驗室工作台上的標準壁插式電源供電。
“事實證明，PXI 是適用於生產車間和表征實驗室的出色集成硬件和軟件解決方案，”Wolfe 補充道。 “NI基於圖形矢量的數字通道板和數字圖形矢量編輯器是一款重要的創新產品，可以幫助設備製造商和測試機構降低測試成本並優化測試程序開發。”
許多半導體公司正在構建基於NI平台和生態係統的智能測試係統。除了生產適用的STS係列、1 GHz帶寬矢量信號收發器、fA級源測量單元和TestStand半導體模塊外，這些係統還受益於涵蓋直流到毫米波的600多種PXI產品。它們采用PCI Express 第3 代總線接口，並具有高吞吐量數據傳輸功能，具有亞納秒同步以及集成定時和觸發功能。用戶可以利用LabVIEW 和TestStand 軟件環境的高生產力以及由合作夥伴、附加IP 和應用工程師團隊組成的活躍生態係統，顯著降低測試成本、縮短上市時間並開發麵向未來的測試設備迎接未來射頻和混合信號測試的各種挑戰。
如需了解有關NI 半導體測試產品的更多信息，請訪問www.ni.com/semiconductor
